Анализ рассеивающих свойств внедренных частиц методом дискретных источников

Строится численная схема метода дискретных источников для математического моделирования рассеивающих свойств наночастиц, заглубленных в подложку. Проводится анализ, как дифференциальных, так и интегральных рассеивающих характеристик частиц различной степени заглубленности. Показано, что можно отличать заглубленные частицы от расположенных на подложке используя $P$-поляризацию внешнего возбуждения и два угла падения волны. Библ. 3. Фиг. 6.