Semiconductors

Термоэлектрические свойства лент Bi–Te–Se полученных методом быстрой закалки

S. V. Novikov, A. V. Li, A. A. Shabaldin, V. N. Verbitskii, I. A. Nyapshaev

Ioffe Institute, St. Petersburg

Received: 20.05.2025
Revised: 21.05.2025
Accepted: 21.05.2025

DOI: 10.61011/FTT.2025.05.60741.121-25