Surface physics, thin films

Влияние электронной структуры на топографию поверхностей Ge(100) и Si(100) в сканирующей туннельной микроскопии

V. E. Remele, M. V. Kuzmin

Ioffe Institute, St. Petersburg

Received: 02.09.2025
Revised: 16.01.2026
Accepted: 22.01.2026

DOI: 10.61011/FTT.2026.01.62588.243-25