Short Notes

Defect-induced fundamental edge deformation in two-photon spectroscopy of semiconductors

R. Baltrameyunas, V. Gavryushin, G. Rachyukaitis, A. Kazlauskas, V. D. Ryzhikov, E. V. Markov, V. A. Teplitskiy, M. A. Kamenskii, V. V. Smirnov

V. Kapsukas Vilnius State University

Received: 09.08.1989
Revised: 24.07.1990

Bibliographic databases:

•