K. V. Likhachev, A. M. Skomorokhov, M. V. Uchaev, Yu. A. Uspenskaya, V. V. Kozlovsky, M. E. Levinshteĭn, I. A. Eliseyev, A. N. Smirnov, D. D. Kramushchenko, R. A. Babunts, P. G. Baranov, “Локальная диагностика спиновых дефектов в облученных SiC-диодах Шоттки”, Pis'ma v Zh. Èksper. Teoret. Fiz., 2024, Volume 120, Issue 5,Pages <nobr>367

CONDENSED MATTER

Локальная диагностика спиновых дефектов в облученных SiC-диодах Шоттки

K. V. Likhachev^a, A. M. Skomorokhov^a, M. V. Uchaev^a, Yu. A. Uspenskaya^a, V. V. Kozlovsky^b, M. E. Levinshteĭn^a, I. A. Eliseyev^a, A. N. Smirnov^a, D. D. Kramushchenko^a, R. A. Babunts^a, P. G. Baranov^a

^a Ioffe Institute, St. Petersburg
^b Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Received: 23.07.2024
Revised: 31.07.2024
Accepted: 31.07.2024

DOI: 10.31857/S0370274X24090081