Solid-State Electronics

STUDY OF REFLECTION COEFFICIENTS OF MULTILAYERED TITANIUM-SILICONE X-RAY MIRRORS UNDER NORMAL INCIDENCE

S. S. Borisova, I. V. Kozhevnikov, V. V. Kondratenko, V. E. Levashov, I. I. Lyahovskaya, I. F. Mikhaĭlov, A. G. Ponomarenko, S. I. Sagitov, A. I. Fedorenko, V. A. Chirkov, A. S. Shulakov

Bibliographic databases:

•