Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках

E. M. Gershenzon, G. N. Goltsman, A. I. Elantev, M. L. Kagane, V. V. Multanovskii, N. G. Ptitsina