Обнаружение нового метастабильного уровня $DX$-центра в тонких легированных Si слоях Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As

P. N. Brunkov, V. P. Evtikhiev, S. G. Konnikov, E. Yu. Kotelnikov, M. G. Papentsev, M. M. Sobolev