RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

2018, том 88, выпуск 6


Теоретическая и математическая физика
Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе
А. А. Потапов, С.Ш. Рехвиашвили
803

Газы и жидкости
К гидротермодинамике обледенения профиля в воздушно-кристаллическом потоке
А. В. Кашеваров, В. С. Левченко, А. Б. Миллер, Ю. Ф. Потапов, А. Л. Стасенко
808

Плазма
Короткий разряд с термоэмиссионным катодом в парах щелочноземельных металлов
А. А. Богданов, В. Б. Каплан, А. М. Марциновский
815
Стримеры при субнаносекундном пробое аргона и азота в неоднородном электрическом поле при обеих полярностях
Д. В. Белоплотов, М. И. Ломаев, Д. А. Сорокин, В. Ф. Тарасенко
819
Микроструктура искрового разряда в воздухе в промежутке острие-плоскость
К. И. Алмазова, А. Н. Белоногов, В. В. Боровков, Е. В. Горелов, И. В. Морозов, А. А. Тренькин, С. Ю. Харитонов
827
Заполнение плоского щелевого объема тлеющим разрядом в поперечном магнитном поле и влияние магнитного поля на контракцию разряда
М. С. Мокров, Ю. П. Райзер
832

Твердое тело
Эффект памяти формы в монокристаллах Cu–Al–Ni, линейные и вращательные двигатели на их основе
С. А. Пульнев, А. И. Прядко, С. Г. Ястребов, В. И. Николаев
843
О возможности разращивания алмазов в среде углеводородов
С. К. Брантов, В. Б. Ефимов
850
Природа упругопластического инварианта деформации
Л. Б. Зуев, В. И. Данилов, С. А. Баранникова, Н. А. Плосков
855

Физическое материаловедение
Исследование вакансионной системы реструктурированного цинка методом аннигиляции позитронов
Е. М. Соловьев, Б. В. Спицын, Р. С. Лаптев, А. М. Лидер, Ю. С. Бордулев, А. А. Михайлов
860
Радиационная электропроводность нанокомпозиционных материалов
Н. С. Дюрягина, А. П. Яловец
864

Твердотельная электроника
Создание совмещенной технологии спин-вентильных магниторезистивных элементов и микромагнитов
В. В. Амеличев, П. А. Беляков, Д. В. Костюк, Д. В. Васильев, Е. П. Орлов, Ю. В. Казаков, С. И. Касаткин, А. И. Крикунов
874

Физика низкоразмерных структур
Диэлектрическая спектроскопия сильно коррелированных электронных состояний диоксида ванадия
А. В. Ильинский, Р. А. Кастро, Е. И. Никулин, Е. Б. Шадрин
877
Механизм образования клатратов аргона с углеродными дендритами
М. П. Данилаев, Е. М. Зуева, Е. А. Богослов, М. С. Пудовкин, Ю. Е. Польский
883

Оптика
Формирование микротурбин методом прямой лазерной записи по фоторезисту
Р. В. Скиданов, О. Ю. Моисеев, С. В. Ганчевская
888
Анализ вкладов различных факторов в магнитооптический сигнал трехмерных структур типа магнитофотонных кристаллов
Н. Ю. Звездин, В. А. Папорков, А. В. Проказников, И. С. Царев
892

Акустика, акустоэлектроника
Акустооптическая дифракция в парателлурите на медленной акустической моде. Повышение эффективности дифракции расходящегося света
С. Н. Антонов, А. Л. Филатов
902

Радиофизика
Влияние ионосферы на возбуждение электромагнитного поля диапазона КНЧ и более низких частот в ближней зоне
Е. Д. Терещенко, П. Е. Терещенко, А. Е. Сидоренко, В. Ф. Григорьев, А. А. Жамалетдинов
907

Электрофизика, электронные и ионные пучки, физика ускорителей
Высокоэффективный источник электронов с полым катодом для технологий осаждения тонких пленок и обработки поверхностей при форвакуумных давлениях
В. Г. Щукин, В. О. Константинов, В. С. Морозов
914

Физическая электроника
Стабильность полевой эмиссии одиночной углеродной нанотрубки
С. В. Булярский, А. А. Дудин, А. В. Лакалин, А. П. Орлов, А. А. Павлов, Р. М. Рязанов, А. А. Шаманаев
920
Влияние толщины пленки Pt на процессы роста зерен при ее отжиге
Р. В. Селюков, В. В. Наумов, С. В. Васильев
926

Биомедицинская физика
Комплексная природа термических фазовых превращений в растворах альбумина
А. О. Вонти, А. В. Ильинский, В. М. Капралова, Е. Б. Шадрин
934

Физические приборы и методы эксперимента
Метод видеогониографии для изучения морфологии боковой поверхности профилированных монокристаллов и прибор для его реализации
С. И. Бахолдин, В. Н. Маслов
943

Краткие сообщения
К вопросу об источнике апокампа
Э. А. Соснин, В. А. Панарин, В. С. Скакун, В. Ф. Тарасенко
951
Влияние частичной ионизации легирующих примесей в 4H-SiC на емкость обратносмещенного $p^{+}$$i$$n^{+}$-диода
П. А. Иванов, А. С. Потапов, И. В. Грехов
955


© МИАН, 2025