RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

2023, том 93, выпуск 7


XXVII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'' Н. Новгород, 13-16 марта, 2023 г.
Теоретическая и математическая физика
Кремниевые решетки с блеском для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового излучения: влияние формы профиля штриха и случайной шероховатости на дифракционную эффективность
Л. И. Горай, В. А. Шаров, Д. В. Мохов, Т. Н. Березовская, К. Ю. Шубина, Е. В. Пирогов, А. С. Дашков, А. Д. Буравлев
859
Теория аксиальной томографии на основе обратного преобразования Радона для высокоапертурной мягкой рентгеновской микроскопии
К. П. Гайкович, И. В. Малышев, Д. Г. Реунов, Н. И. Чхало
867
Плазма
Исследование эмиссионного спектра быстрого капиллярного разряда в области “водяного окна”
А. А. Самохвалов, К. А. Сергушичев, С. И. Елисеев, Т. П. Бронзов, Е. П. Большаков, Д. В. Гетман, А. А. Смирнов
880
Исследование процесса гидрогенизации одностенных углеродных нанотрубок с помощью индукционно-связанной аргон-водородной плазмы
Е. И. Преображенский, А. В. Водопьянов, А. В. Нежданов
884
Эмиссионные характеристики лазерно-плазменного источника экстремального ультрафиолетового излучения с тонкопленочными мишенями
А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, А. Н. Нечай, А. А. Перекалов, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, А. А. Соловьев, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало
892
Физическое материаловедение
Влияние гомобуферного слоя на морфологию, микроструктуру и твердость пленок Al/Si(111)
А. А. Ломов, Д. М. Захаров, М. А. Тарасов, А. М. Чекушкин, А. А. Татаринцев, Д. А. Кисёлев, Т. С. Ильина, А. Е. Селезнев
897
Твердотельная электроника
Влияние радиационного воздействия на магнитные свойства пленок ферромагнетик/IrMn с обменным сдвигом
Д. О. Кривулин, И. Ю. Пашенькин, Р. В. Горев, П. А. Юнин, М. В. Сапожников, А. В. Грунин, С. А. Захарова, В. Н. Леонтьев
907
Физика низкоразмерных структур
Использование сканирующей зондовой литографии для формирования планарных микрочастиц с конфигурационной анизотропией
Д. А. Бизяев, А. А. Бухараев, А. С. Морозова, Н. И. Нургазизов, А. П. Чукланов
913
Влияние комбинированного ионного и электронного облучения на полосу люминесценции 2 eV в гексагональном нитриде бора
Ю. В. Петров, О. А. Гогина, О. Ф. Вывенко, S. Kovalchuk, K. Bolotin
921
Квантовые эффекты при формировании двойниковой границы в Pb
С. И. Божко, А. С. Ксенз, Д. А. Фокин, А. М. Ионов
928
Исследование свойств многослойных зеркал на основе пары материалов Mo/B$_4$C
Р. А. Шапошников, С. А. Гарахин, К. В. Дуров, В. Н. Полковников, Н. И. Чхало
931
Исследование влияния температуры роста на свойства легированных азотом углеродных нанотрубок для создания устройств нанопьезотроники
М. В. Ильина, Н. Н. Рудык, О. И. Соболева, М. Р. Полывянова, С. А. Хубежов, О. И. Ильин
936
Короткопериодные многослойные зеркала для высокоразрешающего монохроматора многослойное зеркало/кристалл
В. Н. Полковников, Н. И. Чхало, Р. А. Шапошников, А. Д. Николенко
943
Фотоника
О численном моделировании трековых мембран, используемых в качестве коллиматоров рентгеновского излучения
А. В. Митрофанов, Р. М. Фещенко
948
Методы рентгеновского флуоресцентного микроанализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света для исследования гистологических срезов мышечных тканей
И. А. Артюков, Г. П. Арутюнов, Д. О. Драгунов, Н. Н. Мельник, Д. Х. А. Панэке, Е. В. Переведенцева, А. В. Соколова, В. В. Соколова
953
Метод детектирования малых колебаний на основе гомодинной демодуляции с тандемным низкокогерентным интерферометром
П. В. Волков, Д. А. Семиков, О. С. Вязанкин, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов, А. Д. Тертышник
959
Внеосевой асферический коллектор для экстремальной ультрафиолетовой литографии и мягкой рентгеновской микроскопии
И. В. Малышев, М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, М. Н. Торопов, А. К. Чернышев, Н. И. Чхало
963
Исследование направленных ответвителей для реализации квантовых операций над кубитами
И. О. Венедиктов, В. В. Ковалюк, П. П. Ан, А. Д. Голиков, С. С. Святодух, Г. Н. Гольцман
968
Влияние внешнего переменного электрического поля на эффективность сверхпроводникового однофотонного детектора
К. О. Седых, Е. Сулеймен, М. И. Святодух, А. Подлесный, В. В. Ковалюк, П. П. Ан, Н. С. Каурова, И. Н. Флоря, К. Е. Лахманский, Г. Н. Гольцман
974
Проект рентгенооптической схемы литографа с динамической маской пропускающего типа и синхротронным источником излучения
И. В. Малышев, Н. И. Чхало, С. Н. Якунин
980
Радиофизика
Активный сверхпроводящий терагерцовый детектор
С. В. Шитов
988
Устройства и методы измерения параметров RFTES-болометра
Т. М. Ким, А. В. Меренков, Ан. Б. Ермаков, Л. С. Соломатов, В. И. Чичков, С. В. Шитов
995
Физическая электроника
Дисперсионные элементы зеркального спектрометра на диапазон 7–30 nm
С. А. Гарахин, А. Я. Лопатин, А. Н. Нечай, А. А. Перекалов, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало
1002
Особенности протекания твердофазных реакций в трехслойной пленочной системе Sn/Fe/Cu
Ю. Ю. Балашов, В. Г. Мягков, Л. Е. Быкова, М. Н. Волочаев, В. С. Жигалов, А. А. Мацынин, К. А. Галушка, Г. Н. Бондаренко, С. В. Комогорцев
1009
Визуализация магнитных полей в растровом электронном микроскопе
Д. А. Татарский, Е. В. Скороходов, С. А. Гусев
1014
Прецизионное перемещение апконверсионных наночастиц по поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии
А. П. Чукланов, А. С. Морозова, Н. И. Нургазизов, Е. О. Митюшкин, Д. К. Жарков, А. В. Леонтьев, В. Г. Никифоров
1019
Особенности трансформации микрорельефа структур “кремний на изоляторе” при воздействии фотонных и корпускулярных излучений
Б. А. Логинов, Д. Ю. Блинников, В. С. Второва, В. В. Кириллова, Е. А. Ляшко, В. С. Макеев, А. Р. Первых, Н. Д. Абросимова, И. Ю. Забавичев, А. С. Пузанов, Е. В. Волкова, Е. А. Тарасова, С. В. Оболенский
1025
Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si$_3$N$_4$ мембран
Д. Г. Реунов, Н. С. Гусев, М. С. Михайленко, Д. В. Петрова, И. В. Малышев, Н. И. Чхало
1032
Нанесение жидкого стекла на подложки оптических элементов и его молекулярный состав
Д. В. Петрова, М. С. Михайленко, М. В. Зорина, М. Н. Дроздов, А. Е. Пестов, Н. И. Чхало
1037
Изучение влияния энергии ионов неона на шероховатость поверхности основных срезов монокристаллического кремния при ионном травлении
М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, А. К. Чернышев, М. В. Зорина, Н. И. Чхало, Н. Н. Салащенко
1046
Изучение угловых зависимостей скоростей ионно-пучкового распыления металлов для синтеза заготовок фотошаблонов
М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, А. К. Чернышев, Н. И. Чхало
1051
Физические приборы и методы эксперимента
Применение просвечивающей электронной микроскопии для исследования функционального наноэлемента
К. Е. Приходько, М. М. Дементьева
1054
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов
А. А. Дедкова, И. В. Флоринский, А. К. Чернышев
1059


© МИАН, 2026