Time-resolved X-ray reciprocal space mapping of a crystal in an external electric field
N. V Marchenkov, A. G. Kulikov, I. I. Atknin, A. A. Petrenko, A. E. Blagov, M. V. Kovalchuk

References
1.	Ren Z. et al, J. Synchrotron Rad., 6 (1999), 891
2.	Blagov A. E. et al, Exp. Tech., 41 (2017), 517
3.	Gorfman S. et al, Z. Kristallogr., 222 (2007), 396
4.	Gorfman S. et al, J. Appl. Phys., 108 (2010), 064911
5.	Marchenkov N. V. et l., Rev. Sci. Instrum., 89 (2018), 095105
6.	Hanzig J. et al, Phys. Rev. B, 88 (2013), 024104
7.	Kovalchuk M. V. et al, Crystallogr. Rep., 59 (2014), 862
8.	Kulikov A. G., Acoust. Phys., 62 (2016), 694
9.	Chahine G. A. et al, J. Appl. Cryst., 47 (2014), 762
10.	Bowen D. K., Tanner B. K., High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography, Taylor and Francis, London, 1998; Bouen D. K., Tanner B. K., Vysokorazreshayuschaya rentgenovskaya difraktometriya i topografiya, Nauka, SPb., 2002
11.	Fewster P. F., Critical Rev. Solid State Mater. Sci., 22 (1997), 69
12.	Holý V. et al, J. Appl. Phys., 78 (1995), 5013
13.	Kaganer V. M. et al, Phys. Rev. B, 55 (1997), 1793
14.	Nesterets Y. I., Punegov V. I., Acta Cryst. A, 56 (2000), 540
15.	Holý V. et al, J. Appl. Cryst., 27 (1994), 551
16.	Afanasev A. M., Aleksandrov P. A., Imamov R. M., Rentgenodifraktsionnaya diagnostika submikronnykh sloev, Nauka, M., 1989
17.	Lomov A. A. et al, Crystallogr. Rep., 48 (2003), 326
18.	Kovalchuk M. V. i dr, Pribory i tekhnika eksperimenta, 1976, no. 1, 194
19.	Koval'chuk M. V., Kohn V. G., Sov. Phys. Usp., 29 (1986), 426
20.	Bjørheim T. S., Haugsrud R., Norby T., Solid State Ionics, 264 (2014), 76
21.	Mill B. V., Pisarevsky Y. V., Proc. of the 2000 IEEE/EIA Intern. Frequency Control Symp. and Exhibition (9 June 2000, Kansas City, MO, USA), IEEE, Piscataway, NJ, 2000, 133
22.	Kuzmicheva G. M., Nekotorye aspekty prikladnoi kristallokhimii, Moskovskii tekhnologicheskii un-t, M., 2014
23.	Seh H., Tuller H. L., J. Electroceramics, 15 (2005), 193
24.	Kaminskii A. A. et al, Phys. Status Solidi A, 80 (1983), 607