ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 11

ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

2020, том 90, выпуск 11

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Теоретическая и математическая физика
	Оптимизация анодной мембраны с прострельной мишенью в системе источников мягкого рентгеновского излучения для проведения процессов рентгеновской нанолитографии П. Ю. Глаголев, Г. Д. Демин, Г. И. Орешкин, Н. И. Чхало, Н. А. Дюжев	1789
	Особенности двумерных бифуркаций при диссипативном туннелировании электронов в массивах Au наночастиц М. Б. Семенов, В. Д. Кревчик, Д. О. Филатов, А. В. Шорохов, А. П. Шкуринов, П. В. Кревчик, Y. H. Wang, T. R. Li, A. K. Malik, Д. А. Антонов, И. М. Семенов	1797
Атомная и молекулярная физика
	Перспективы использования рентгеновских трубок с автоэмиссионным катодом и “прострельным” анодом в диапазоне мягкого рентгеновского излучения М. М. Барышева, С. Ю. Зуев, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало	1806
Плазма
	Применение новых типов многослойных зеркал нормального падения для целей солнечной спектроскопии вакуумного ультрафиолетового диапазона С. В. Кузин, А. А. Рева, С. А. Богачев, Н. Ф. Ерхова, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, В. Н. Полковников	1817
Твердое тело
	Магнитно-резонансная силовая спектроскопия колебаний магнитного вихря В. Л. Миронов, Е. В. Скороходов, Д. А. Татарский, И. Ю. Пашенькин	1821
	Исследование резонансной активации резистивного переключения в пленках ZrO$_{2}$(Y) методом атомно-силовой микроскопии Д. О. Филатов, Д. А. Антонов, И. Н. Антонов, М. А. Рябова, О. Н. Горшков	1825
	Зондовая микроскопия и электронно-транспортные свойства тонких эпитаксиальных пленок Mo на сапфире Л. А. Фомин, И. В. Маликов, В. А. Березин, А. В. Черных, А. Б. Логинов, Б. А. Логинов	1830
	Экспериментальное определение механических свойств анодного элемента рентгеновского литографа Н. А. Дюжев, Е. Э. Гусев, А. А. Дедкова, Д. А. Товарнов, М. А. Махиборода	1838
Физическое материаловедение
	Методы атомно-силовой микроскопии для исследования суперпротонных кристаллов Р. В. Гайнутдинов, А. Л. Толстихина, Е. В. Селезнева, И. П. Макарова	1843
	Возможности метода ВИМС для анализа профиля имплантированного водорода в кремнии и примесного состава структур “кремний на изоляторе” Н. Д. Абросимова, М. Н. Дроздов, С. В. Оболенский	1850
	Морфология и состав дефектированных массивов ниобиевых оксидных неоднородностей, сформированных анодированием двуслойной системы Al/Nb А. Н. Плиговка, П. А. Юнин, А. В. Гога, С. А. Королев, Г. Г. Горох, Е. В. Скороходов	1854
Физика низкоразмерных структур
	Влияние интегрированных сопротивлений, созданных под действием ионного облучения, на сверхпроводящие переходы нанопроводников из нитрида ниобия Б. А. Гурович, К. Е. Приходько, Б. В. Гончаров, М. М. Дементьева, Л. В. Кутузов, Д. А. Комаров, А. Г. Домантовский, В. Л. Столяров, Е. Д. Ольшанский	1860
	Модификация и полировка штриха голографической дифракционной решетки пучком нейтрализованных ионов Ar С. А. Гарахин, М. В. Зорина, С. Ю. Зуев, М. С. Михаленко, А. Е. Пестов, Р. С. Плешков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало	1864
	Сглаживающий эффект Si-слоев в многослойных зеркалах Be/Al для спектрального диапазона 17–31 nm Р. С. Плешков, С. Ю. Зуев, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, P. Jonnard	1870
	Широкополосные зеркала для спектрогелиографов солнечной обсерватории “КОРТЕС” С. А. Гарахин, М. М. Барышева, Е. А. Вишняков, С. Ю. Зуев, А. С. Кириченко, С. В. Кузин, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало	1876
	Микроструктура переходных границ в многослойных Мо/Ве-системах Р. М. Смертин, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, П. А. Юнин, А. Л. Тригуб	1884
	Многослойные зеркала Cr/Sc с улучшенным отражением для диапазона “окна прозрачности воды” В. Н. Полковников, С. А. Гарахин, Д. C. Квашенников, И. В. Малышев, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Р. М. Смертин, Н. И. Чхало	1893
Фотоника
	Трековая мембрана как фазовый тест-объект для рентгеновской области спектра А. В. Митрофанов, А. В. Попов, Д. В. Прокопович	1898
Физическая электроника
	Глубокая рентгеновская рефлектометрия сверхмногопериодных A3B5-структур с квантовыми ямами, выращиваемых методом молекулярно-пучковой эпитаксии Л. И. Горай, Е. В. Пирогов, М. С. Соболев, Н. К. Поляков, А. С. Дашков, М. В. Свечников, А. Д. Буравлев	1906
	Подготовка поверхности материалов для создания композитных оптических элементов М. В. Зорина, И. И. Кузнецов, М. С. Михайленко, О. В. Палашов, А. Е. Пестов, Н. И. Чхало	1913
	Магнитоэлектрический эффект в гибридных системах сегнетоэлектрик/ферромагнитная пленка с анизотропией типа “легкая плоскость” и “легкая ось” Н. С. Гусев, М. В. Сапожников, О. Г. Удалов, И. Ю. Пашенькин, П. А. Юнин	1917
	Ионно-пучковые методики прецизионной обработки оптических поверхностей И. Г. Забродин, М. В. Зорина, И. А. Каськов, И. В. Малышев, М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, А. К. Чернышев, Н. И. Чхало	1922
	Анализ эмиссии электронов с одиночного кремниевого катода в квазивакуумную (воздушную) среду методом атомно-силовой микроскопии И. Д. Евсиков, С. В. Митько, П. Ю. Глаголев, Н. А. Дюжев, Г. Д. Демин	1931
Физика -- наукам о жизни
	Исследование влияния колхицина на нативные фибробласты методами атомно-силовой и конфокальной микроскопии М. М. Халисов, В. А. Пеннияйнен, С. А. Подзорова, К. И. Тимощук, А. В. Анкудинов, Б. В. Крылов	1938
Физические приборы и методы эксперимента
	Микроволновая вольт-импедансная спектроскопия полупроводников А. Н. Резник, Н. В. Востоков, Н. К. Вдовичева, В. И. Шашкин	1944
	Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе А. В. Анкудинов, М. М. Халисов	1951
	Получение гладких высокоточных поверхностей методом механического притира М. Н. Торопов, А. А. Ахсахалян, М. В. Зорина, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Ю. М. Токунов	1958