RUS  ENG
Full version
JOURNALS // Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov // Archive

2013, Volume 47, Issue 3


Electronic properties of semiconductors
Electrical properties of Pb$_{1-x}$Mn$_x$Te single crystals with an excess of tellurium
G. Z. Bagiyeva, G. D. Abdinova, N. B. Mustafaev, J. Sh. Abdinov
289
Photoconductivity of vanadium-doped lead telluride in the terahertz spectral region
A. I. Artamkin, A. A. Dobrovolsky, A. A. Vinokurov, V. P. Zlomanov, S. N. Danilov, V. V. Bel'kov, L. I. Ryabova, D. R. Khokhlov
293
Specific features of self-compensation in Er$_x$Sn$_{1-x}$Se solid solutions
J. È. Huseynov, M. I. Murguzov, Sh. S. Ismailov
298
Violation of neutrality and occurrence of $S$-shaped current-voltage characteristic for doped semiconductors under double injection
T. T. Ìnatsakanov, A. G. Tandoev, M. E. Levinshteĭn, S. N. Yurkov, J. W. Palmour
302

Surface, interfaces, thin films
Study of the recombination process at crystallite boundaries in CuIn$_{1-x}$Ga$_x$Se$_2$ (CIGS) films by microwave photoconductivity
K. V. Bocharov, G. F. Novikov, T. Y. Hsieh, M. V. Gapanovich, M. J. Jeng
310
Thermally deposited Ag-doped CdS transistors with rare-earth oxide Nd$_2$O$_3$ as gate dielectric
P. Gogoi
316
Optical size effect in In$_2$O$_3$ nanostructured films
V. N. Katerinchuk, Z. R. Kudrynskyi
320

Semiconductor structures, low-dimensional systems, quantum phenomena
Effect of Bi isovalent dopants on the formation of homogeneous coherently strained InAs quantum dots in GaAs matrices
R. M. Peleshchak, S. K. Guba, O. V. Kuzyk, O. O. Dan’kiv, I. V. Kurilo
324
Dependence of the efficiency of Raman scattering in silicon nanowire arrays on the excitation wavelength
K. V. Bunkov, L. A. Golovan, K. A. Gonchar, V. Yu. Timoshenko, P. K. Kashkarov, M. Kulmas, V. Sivakov
329
Influence of irradiation with swift heavy ions on multilayer Si/SiO$_2$ heterostructures
G. A. Kachurin, S. G. Cherkova, D. V. Marin, V. A. Volodin, A. G. Cherkov, A. Kh. Antonenko, G. N. Kamaev, V. A. Skuratov
334
Revealing the surface interface correlations in $a$-Si:H films by 2D detrended fluctuation analysis
A. V. Alpatov, S. P. Vikhrov, N. V. Grishankina
340
Maximum drift velocity of electrons in selectively doped InAlAs/InGaAs/InAlAs heterostructures with InAs inserts
A. L. Shilenas, Yu. K. Pozhela, K. Požela, V. Juciené, I. S. Vasil'evskii, G. B. Galiev, S. S. Pushkarev, E. A. Klimov
348

Amorphous, glassy, organic semiconductors
Study of the composition, structure, and optical properties of $a$-Si$_{1-x}$C$_x$ : H$\langle$Er$\rangle$ films erbium doped from the Er(pd)$_3$ complex compound
V. Kh. Kudoyarova, V. A. Tolmachev, E. V. Gushchina
353

Micro- and nanocrystalline, porous, composite semiconductors
Photoconductivity of composite structures based on porous SnO$_2$ sensitized with CdSe nanocrystals
K. A. Drozdov, V. I. Kochnev, A. A. Dobrovolsky, R. B. Vasiliev, A. V. Babynina, M. N. Rumyantseva, A. M. Gaskov, L. I. Ryabova, D. R. Khokhlov
360

Semiconductor physics
Features of the performance of a transient voltage suppressor in the pulsed mode
A. Z. Rahmatov, O. A. Abdulkhaev, A. V. Karimov, D. M. Yodgorova
364
Surface functional composition and sensor properties of ZnO, Fe$_2$O$_3$, and ZnFe$_2$O$_4$
S. S. Karpova, V. A. Moshnikov, S. V. Myakin, E. S. Kolovangina
369
Theory and simulation of combined mechanisms limiting the safe operating area of power semiconductor microelectronic switches
A. V. Gorbatyuk, D. V. Gusin, B. V. Ivanov
373
Picosecond internal $Q$-switching mode correlates with laser diode breakdown voltage
B. Lanz, S. N. Vainshtein, V. M. Lantratov, N. A. Kalyuzhnyy, S. A. Mintairov, J. T. Kostamovaara
383
Comparison of the properties of AlGaInN light-emitting diode chips of vertical and flip-chip design using silicon as the a submount
L. K. Markov, I. P. Smirnova, A. S. Pavluchenko, M. V. Kukushkin, E. D. Vasil'eva, A. E. Chernyakov, A. S. Usikov
386
Optimization of the deposition and annealing conditions of fluorine-doped indium oxide films for silicon solar cells
G. G. Untila, T. N. Kost, A. B. Chebotareva, M. A. Timofeev
392

Manufacturing, processing, testing of materials and structures
Influence of the doping with third group oxides on the properties of zinc oxide thin films
Sowmya Palimar, Kasturi V. Bangera, G. K. Shivakumar
399
Transition from the two- to three-dimensional growth of Ge films upon deposition onto relaxed SiGe/Si(001) buffer layers
M. V. Shaleev, A. V. Novikov, D. V. Yurasov, J. M. Hartmann, O. A. Kuznetsov, D. N. Lobanov, Z. F. Krasil'nik
404
Low-temperature growth of silicon epitaxial layers codoped with erbium and oxygen atoms
D. V. Shengurov, V. Yu. Chalkov, S. A. Denisov, V. G. Shengurov, M. V. Stepikhova, M. N. Drozdov, Z. F. Krasil'nik
410
Influence of the carrier Gas, trimethylgallium flow, and growth time on the character of the selective epitaxy of GaN
M. M. Rozhavskaya, V. V. Lundin, E. E. Zavarin, S. I. Troshkov, P. N. Brunkov, A. F. Tsatsul'nikov
414
Specific features of nanosize object formation in an InSb/InAs system by metal-organic vapor-phase epitaxy
V. V. Romanov, P. A. Dementev, K. D. Moiseev
420
The mechanism of contact-resistance formation on lapped $n$-Si surfaces
A. V. Sachenko, A. E. Belyaev, N. S. Boltovets, A. O. Vinogradov, L. M. Kapitanchuk, R. V. Konakova, V. P. Kostylyov, Ya. Ya. Kudryk, V. P. Klad'ko, V. N. Sheremet
426


© Steklov Math. Inst. of RAS, 2026