Смирнова Ирина Алекссевна

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения
   
   Физика твердого тела, 61:8 (2019),  1499–1504
2. Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью “изгибных интерференционных полос”
   
   Письма в ЖТФ, 42:18 (2016),  55–62
3. Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)
   
   УФН, 185:9 (2015),  897–915
4. Быстрые ионизационные волны в полупроводнике, связанные с переизлучением
   
   Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986),  1335–1337
5. Полупроводниковые мощные субнаносекундные коммутаторы с большим временем удержания в проводящем состоянии
   
   Письма в ЖТФ, 11:15 (1985),  901–904