|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование методов текстурирования светодиодов на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1086–1090
-
Неохлаждаемые фотодиоды для регистрации импульсного инфракрасного излучения в спектральном диапазоне 0.9–1.8 мкм
Физика и техника полупроводников, 55:7 (2021), 607–613
-
Высоковольтные лавинные 4$H$-SiC диоды с прямой фаской
Физика и техника полупроводников, 55:4 (2021), 349–353
-
Высоковольтные 4$H$-SiC диоды Шоттки с полевой обкладкой
Физика и техника полупроводников, 55:2 (2021), 188–194
-
Высоковольтные лавинные 4$H$-SiC-диоды с охранной полуизолирующей областью
Письма в ЖТФ, 47:6 (2021), 48–50
-
Плазмохимическое и жидкостное травление в постростовой технологии каскадных солнечных элементов на основе гетероструктуры GaInP/GaInAs/Ge
Письма в ЖТФ, 47:3 (2021), 14–17
-
Формирование SiC-мезаструктур с пологими боковыми стенками cухим селективным травлением через маску из фоторезиста
ЖТФ, 90:6 (2020), 997–1000
-
Фотодиоды для регистрации излучения квантово-размерных дисковых лазеров, работающих на модах шепчущей галереи (2.2–2.3 мкм)
Физика и техника полупроводников, 54:7 (2020), 677–683
-
О защите высоковольтных мезаструктурных 4$H$-SiC-приборов от поверхностного пробоя: прямая фаска
Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020), 207–211
-
Микропрофилирование 4$H$-SiC сухим травлением в технологии формирования структуры полевого транзистора с затвором Шоттки
Физика и техника полупроводников, 54:1 (2020), 97–102
-
Светодиоды на основе асимметричной двойной гетероструктуры InAs/InAsSb/InAsSbP для детектирования CO$_{2}$ ($\lambda$ = 4.3 мкм) и CO ($\lambda$ = 4.7 мкм)
Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 832–838
-
Разработка методов жидкостного травления разделительной меза-структуры при создании каскадных солнечных элементов
Письма в ЖТФ, 45:24 (2019), 14–16
-
Генерация квантово-каскадных лазеров на длине волны излучения 9.6 $\mu$m
ЖТФ, 88:10 (2018), 1559–1563
-
Влияние структуры омических контактов на характеристики GaAs/AlGaAs фотоэлектрических преобразователей
ЖТФ, 88:8 (2018), 1211–1215
-
Фотодиоды на основе InAsSbP для длин волн 2.6–2.8 $\mu$m
ЖТФ, 88:2 (2018), 234–237
-
Полосковая структура для изорешеточных квантовых каскадных лазеров
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1499–1502
-
Фотодиоды для ближней инфракрасной области спектра на основе GaSb/GaAlAsSb-гетероструктур
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1094–1099
-
Эффект увеличения фотопроводимости в гетероструктуре II типа $n$-GaSb/InAs/$p$-GaSb с одиночной квантовой ямой
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 906–911
-
Изготовление и исследование изорешеточной гетероструктуры для квантовых каскадных лазеров
Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 812–815
-
Исследование модифицированной структуры квантового каскадного лазера
Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 133–137
-
Квантовые каскадные лазеры с длиной волны излучения 4.8 $\mu$m, работающие при комнатной температуре
Письма в ЖТФ, 44:18 (2018), 17–23
-
Синхронизация мод в лазерах спектрального диапазона 1.55 $\mu$m на основе “тонких” квантовых ям
Письма в ЖТФ, 44:4 (2018), 95–102
-
Пространственное перераспределение излучения во флип-чип фотодиодах на основе двойных гетероструктур InAsSbP/InAs
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 269–275
-
Влияние ТГц-резонатора на проводимость короткопериодных сверхрешеток GaAs/AlAs
Письма в ЖЭТФ, 103:2 (2016), 128–131
-
Переключение между режимами синхронизации мод и модуляции добротности в двухсекционных лазерах с квантовыми ямами при изменении свойств поглотителя за счет эффекта Штарка
Физика и техника полупроводников, 50:6 (2016), 843–847
-
Фотодиодная линейка 1 $\times$ 64 на основе двойной гетeроструктуры $p$-InAsSbP/$n$-InAs$_{0.92}$Sb$_{0.08}$/$n^{+}$-InAs
Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 657–662
-
Совершенствование процесса заращивания и получение одномодовых
зарощенных InGaAsP/InP-лазеров ($\lambda=1.3$ мкм) с мощностью
излучения 160 мВт
Физика и техника полупроводников, 25:8 (1991), 1414–1418
-
Зарощенные одномодовые непрерывные
InGaAsP/InP лазеры раздельного ограничения
(${\lambda=1.3}$ мкм)
Письма в ЖТФ, 17:6 (1991), 17–21
-
Локальная эпитаксия карбида кремния из жидкой фазы
Письма в ЖТФ, 17:4 (1991), 77–80
-
Диагностика гетерограниц InGaAsP/InP по оже-профилям косого шлифа,
полученного химическим травлением
ЖТФ, 60:10 (1990), 177–180
-
Инжекционные гетеролазеры с РОС в системе InGaAsSb/GaSb
Письма в ЖТФ, 16:2 (1990), 58–62
-
Барьеры Шоттки и полевые транзисторы на основе
InGaAs/InP
Письма в ЖТФ, 14:19 (1988), 1807–1810
-
Высокотемпературный SiC-6H полевой транзистор с $p{-}n$-затвором
Письма в ЖТФ, 14:4 (1988), 289–293
-
Исследование срока службы непрерывных мезаполосковых
InGaAsP/InP (${\lambda=1.3}$ мкм лазеров раздельного ограничения
ЖТФ, 57:9 (1987), 1822–1824
-
Токовое управление профилем толщины и «токовое раскисление»слоев (AlGa)As, выращенных в канавках
ЖТФ, 57:4 (1987), 778–782
-
Мощные $In\,Ga\,As\,P/In\,P$ РО лазеры для ВОЛС ($\lambda=1,55$ мкм; $T=300$ K; $P=50$ мВт)
Письма в ЖТФ, 13:9 (1987), 535–537
-
Мезаполосковые
InGaAsP/InP (${\lambda=1.5}$ мкм) лазеры непрерывного действия
ЖТФ, 55:9 (1985), 1872–1876
-
Исследование $pin$-фотодиодов на основе
InGaAsP/InP
ЖТФ, 55:8 (1985), 1566–1569
-
Мощные мезаполосковые РО $In\,Ga\,As/In\,P$ лазеры для ВОЛС ($\lambda= 1.3$ мкм, $T=18^{\circ}$ С, $I =300$ мА, $P=28$ мВт в волокне $\varnothing$ $50$ мкм)
Письма в ЖТФ, 11:22 (1985), 1345–1349
-
Фототранзистор на основе
$N{-}p{-}N$ гетероструктур InP-InGaAsP
Письма в ЖТФ, 10:21 (1984), 1294–1297
-
Спонтанные торцевые
InGaAsP/InP-ДГС
излучатели для ВОЛС с диаметром 200 мкм
Письма в ЖТФ, 10:21 (1984), 1286–1290
-
Низкопороговые мезаполосковые
JnGaAsP/JnP лазеры непрерывного действия (${\lambda\simeq 1.3}$ мкм)
Письма в ЖТФ, 10:16 (1984), 961–964
-
Торцевые спонтанные излучатели на основе
ДГС InGaAsP (${\lambda\approx1.3}$ мкм) с ${\eta_{e}\approx6}$% при 300 K
ЖТФ, 53:7 (1983), 1408–1411
© , 2024