Азарян М. Г.

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Method for measuring thickness of thin objects with a nanometer resolution, based on the single-layer flat-coil-oscillator method
   
   Уч. записки ЕГУ, сер. Физика и Математика, 2010, № 3,  63–67
2. Шумы в симметричных планарных структурах из кремния, компенсированного цинком
   
   Физика и техника полупроводников, 18:7 (1984),  1173–1177