|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Свойства податливых подложек на основе пористого кремния, сформированных двухстадийным травлением
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1021–1026
-
Влияние предобработки подложки кремния на свойства пленок GaN, выращенных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 704–710
-
Структурно-спектроскопические исследования эпитаксиальных слоев GaAs, выращенных на податливых подложках на основе сверхструктурного слоя и протопористого кремния
Физика и техника полупроводников, 55:1 (2021), 86–95
-
Спектроскопические исследования интегрированных гетероструктур GaAs/Si
Физика и техника полупроводников, 55:1 (2021), 34–40
-
Влияние слоя нанопористого кремния на практическую реализацию и особенности эпитаксиального роста слоев GaN на темплейтах SiC/$por$-Si/$c$-Si
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 491–503
-
Оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/SiC/$por$-Si/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 346–354
-
Спектроскопические исследования изменений во вторичной структуре белков дентинной и десневой жидкостей по данным синхротронной ИК микроскопии
Оптика и спектроскопия, 127:6 (2019), 917–925
-
Структурные и морфологичеcкие свойства гибридных гетероструктур на основе GaN, выращенного на “податливой” подложке por-Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1141–1151
-
Исследование влияния переходного слоя нанопористого кремния на атомное и электронное строение, а также оптические свойства гетероструктур A$^{\mathrm{III}}$N/por-Si, выращенных методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 1010–1016
-
Особенности морфологии и оптических свойств наноструктур дисульфида молибдена от мономолекулярного слоя до фрактолообразной субструктуры
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 940–946
-
Влияние буферного слоя por-Si на оптические свойства эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111) с наноколончатой морфологией пленки
Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 70–76
-
Фазовый переход полупроводник-металл и “тристабильное” электрическое переключение в нанокристаллических пленках оксида ванадия на кремнии
Письма в ЖТФ, 45:12 (2019), 3–5
-
Электронные и оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/por-Si(111)
Квантовая электроника, 49:6 (2019), 545–551
-
Единовременный анализ микрообластей кариозного дентина методами лазерно-индуцированной флуоресценции и рамановской спектромикроскопии
Оптика и спектроскопия, 125:5 (2018), 708–715
-
Фотолюминесцентные свойства нанопористого нанокристаллического карбонат-замещенного гидроксиапатита
Оптика и спектроскопия, 124:2 (2018), 191–196
-
Влияние буферного слоя $por$-Si на структуру и морфологию эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1553–1562
-
Влияние режимов электрохимического травления на морфологию, структурные и оптические свойства пористого арсенида галлия
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1041–1048
-
Влияние разориентации подложки и ее предварительного травления на структурные и оптические свойства интегрированных гетероструктур GaAs/Si(100), полученных методом газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 881–890
-
Экспериментальные исследования влияния эффектов атомного упорядочения в эпитаксиальных твердых растворах Ga$_{x}$In$_{1-x}$P на их оптические свойства
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1160–1167
© , 2024