|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Свойства податливых подложек на основе пористого кремния, сформированных двухстадийным травлением
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1021–1026
-
Влияние предобработки подложки кремния на свойства пленок GaN, выращенных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 704–710
-
Влияние слоя нанопористого кремния на практическую реализацию и особенности эпитаксиального роста слоев GaN на темплейтах SiC/$por$-Si/$c$-Si
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 491–503
-
Оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/SiC/$por$-Si/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 346–354
-
Структурные и морфологичеcкие свойства гибридных гетероструктур на основе GaN, выращенного на “податливой” подложке por-Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1141–1151
-
Исследование влияния переходного слоя нанопористого кремния на атомное и электронное строение, а также оптические свойства гетероструктур A$^{\mathrm{III}}$N/por-Si, выращенных методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 1010–1016
-
Влияние буферного слоя por-Si на оптические свойства эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111) с наноколончатой морфологией пленки
Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 70–76
-
Электронные и оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/por-Si(111)
Квантовая электроника, 49:6 (2019), 545–551
-
Влияние буферного слоя $por$-Si на структуру и морфологию эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1553–1562
-
Влияние режимов электрохимического травления на морфологию, структурные и оптические свойства пористого арсенида галлия
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1041–1048
-
Влияние разориентации подложки и ее предварительного травления на структурные и оптические свойства интегрированных гетероструктур GaAs/Si(100), полученных методом газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 881–890
-
Особенности оптических характеристик пористого кремния и их модификация с использованием химической обработки поверхности
Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 342–348
-
Влияние разориентации подложки на состав, структурные и фотолюминесцентные свойства эпитаксиальных слоев, выращенных на GaAs(100)
Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 118–124
-
Состав нанокомпозитов из тонких слоев олова на пористом кремнии, сформированных методом магнетронного распыления
Физика твердого тела, 59:4 (2017), 773–782
-
Экспериментальные исследования влияния эффектов атомного упорядочения в эпитаксиальных твердых растворах Ga$_{x}$In$_{1-x}$P на их оптические свойства
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1160–1167
-
Экспериментальные исследования влияния эффектов атомного упорядочения в эпитаксиальных твердых растворах Ga$_{x}$In$_{1-x}$P на их структурные и морфологические свойства
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1131–1137
-
Исследование особенностей осаждения органического красителя Родамин Б на поверхность пористого кремния с различным размером пор
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 193–197
-
Эпитаксиальные твердые растворы Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As : Mg с различным типом проводимости
Физика и техника полупроводников, 51:1 (2017), 124–132
-
Особенности роста и структурно-спектроскопические исследования нанопрофилированных пленок AlN, выращенных на разориентированных подложках GaAs
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1283–1294
© , 2024