|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Динамика экранирования электрического поля в высокоомных полупроводниках ZnSe
Физика твердого тела, 32:10 (1990), 3014–3023
-
Два режима экранирования электрического поля в высокоомных полупроводниках с глубокими центрами
Физика твердого тела, 31:8 (1989), 212–220
-
Динамика экранирования электрического поля в фоторефрактивных
кристаллах Bi$_{12}$SiO$_{20}$
Письма в ЖТФ, 14:14 (1988), 1330–1335
-
Роль глубоких центров в динамике зарядов и полей в фоторефрактивных кристаллах силленитов
Физика твердого тела, 28:11 (1986), 3438–3445
-
Роль глубоких центров захвата в фотоэлектрических свойствах Bi$_{12}$GeO$_{20}$
Физика твердого тела, 28:3 (1986), 926–929
-
Стратификация объемного заряда при экранировании поля в кристаллах
Физика твердого тела, 26:9 (1984), 2843–2851
-
Возникновение знакопеременного объемного заряда в кристалле в процессе экранирования внешнего поля
Физика твердого тела, 26:3 (1984), 743–745
-
Определение параметров ловушек в высокоомных нецентросимметричных фотопроводниках методом оптического зондирования захваченного заряда
Физика твердого тела, 25:10 (1983), 3042–3048
-
Динамика распределения поля и заряда в Bi$_{12}$GeO$_{20}$ при термической ионизации ловушек
Физика твердого тела, 25:9 (1983), 2755–2758
-
Влияние предварительного оптического возбуждения ловушек на процессы переноса заряда в кристаллах Bi$_{12}$GeO$_{20}$
Физика твердого тела, 25:7 (1983), 2163–2168
© , 2024