|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Etching of wrinkled graphene oxide films in noble gas atmosphere under UV irradiation
Наносистемы: физика, химия, математика, 7:1 (2016), 81–86
-
Utilizing of the Medium-Energy Ion Scattering spectrometry for the composition investigation of graphene oxide films on silicon surface
Наносистемы: физика, химия, математика, 5:1 (2014), 113–116
-
Полевой транзистор с $p{-}n$-переходом в качестве затвора на основе
твердых растворов GaAs$_{1-x-y}$Sb$_{x}$P$_{y}$
Физика и техника полупроводников, 25:10 (1991), 1718–1720
-
Влияние потока водорода на параметры слоев GaAs, выращенных методом
жидкофазной эпитаксии
Письма в ЖТФ, 17:13 (1991), 76–81
-
Дрейфовые барьеры в эпитаксиальных слоях нелегированных твердых
растворов GaAs$_{1-x-y}$Sb$_{x}$P$_{y}$
Физика и техника полупроводников, 21:4 (1987), 662–665
-
Корреляционное распределение примесей в нелегированных эпитаксиальных
слоях твердых растворов GaAs$_{1-x-y}$Sb$_{x}$P$_{y}$
Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986), 1227–1233
-
Прямое наблюдение высокоомных областей в эпитаксиальных слоях $Ga\,As_{1-x-y}\,Sb_{x}\,P_{y}$
Письма в ЖТФ, 12:15 (1986), 912–916
-
Высокоселективный фоторезистор на основе твердых растворов в системе $Ga\,As-Ga\,Sb$
Письма в ЖТФ, 11:12 (1985), 717–720
-
Высокоэффективный быстродействующий фоторезистор большой площади на диапазон длин волн $0.9$–$1.1$ мкм
Письма в ЖТФ, 11:1 (1985), 7–11
-
О зависимости ширины запрещенной зоны нелегированного твердого
раствора Al$_{x}$Ga$_{1-x}$Sb от состава (${0\leqslant x\leqslant1}$)
и температуры (${4.2\leqslant T\leqslant200}$ K)
Физика и техника полупроводников, 17:1 (1983), 103–107
© , 2024