Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование влияния тонких пленок SiO$_{x}$
(${0\leqslant x\leqslant 2}$)
на спектральные характеристики кремниевых $p{-}n$ переходов
ЖТФ, 55:11 (1985), 2191–2195
-
Фотоэлектрические характеристики системы $Si\,O_{x}$ ($1\leqslant x \leqslant 2$)-поликристаллический $Si-Ge$
Письма в ЖТФ, 11:11 (1985), 675–679
-
Спектральные характеристики селективных фотопроемников для видимой и ультрафиолетовой областей спектра
Письма в ЖТФ, 11:6 (1985), 354–358
-
Исправление к статье « Исследование вольтамперных характеристик
$p{-}n$-переходов поликристаллический кремний–монокристаллический
кремний»
(ФТП, т. 17, в. 9, стр. 1648–1651)
Физика и техника полупроводников, 17:12 (1983), 2232
-
Исследование вольтамперных характеристик $p{-}n$-переходов
поликристаллический кремний–монокристаллический кремний
Физика и техника полупроводников, 17:9 (1983), 1648–1651
© , 2024