RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Заитов Ф А

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. О миграции индия в CdHgTe после воздействия импульсным магнитным полем

    Физика твердого тела, 34:10 (1992),  3264–3265
  2. Влияние условий измерений на аномальный эффект Холла в $p$-InAs

    Физика и техника полупроводников, 25:11 (1991),  1999–2002
  3. Рекомбинационные процессы в радиационно облученных фоточувствительных структурах на основе селенида галлия

    Физика и техника полупроводников, 23:1 (1989),  152–155
  4. Рекомбинация в Si после термообработки и $\gamma$-облучения

    Физика и техника полупроводников, 21:11 (1987),  2082–2084
  5. Электрофизические и фотоэлектрические характеристики $p{-}n$-переходов, изготовленных имплантацией бериллия в GaAs$_{1-x}$P$_{x}$

    Физика и техника полупроводников, 21:10 (1987),  1901–1904
  6. Электрофизические свойства антимонида индия $n$-типа, облученного быстрыми электронами

    Физика и техника полупроводников, 20:10 (1986),  1787–1790
  7. Температурная зависимость спектров фотолюминесценции монокристаллов GaSe, облученных $\gamma$-квантами

    Физика и техника полупроводников, 20:4 (1986),  613–618
  8. О диффузионном характере радиационной деградации фотопроводящих пленок сернистого свинца

    Физика и техника полупроводников, 19:11 (1985),  2088–2091
  9. Механизмы миграции компонентов и примесей в Cd$_{0.2}$Hg$_{0.8}$Te

    Физика твердого тела, 26:11 (1984),  3233–3239
  10. Диффузия компонентов и примесей в Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te (${x=0.2}$)

    Физика твердого тела, 26:10 (1984),  2960–2967
  11. Позитронная аннигиляция в облученных кристаллах CdHgTe

    Физика и техника полупроводников, 18:11 (1984),  1970–1974
  12. Электрические свойства поликристаллических пленок Bi$_{2-x}$Sb$_x$Te$_3$ при $\gamma$-облучении

    Физика и техника полупроводников, 18:6 (1984),  1095–1098
  13. Механизм миграции индия в Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te

    Физика твердого тела, 25:9 (1983),  2662–2666
  14. Магнитная восприимчивость кремния, легированного гадолинием

    Физика и техника полупроводников, 17:8 (1983),  1490–1492


© МИАН, 2024