RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Каваляускас Ю Ф
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Фотоотражение имплантированных B
$^{+}$
кристаллов Cd
$_{0.27}$
Hg
$_{0.73}$
Te в области краевого поглощения
Физика и техника полупроводников
,
20
:5 (1986),
789–793
Профиль распределения дефектов в ионно-имплантированных кристаллах Hg
$_{0.8}$
Cd
$_{0.2}$
Te
Физика и техника полупроводников
,
17
:7 (1983),
1322–1324
©
МИАН
, 2024