RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Xрамцовский И А
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Использование методов эллипсометрии и ВКБ для определения оптического профиля волноводных слоев
Письма в ЖТФ
,
13
:20 (1987),
1230–1235
©
МИАН
, 2024