RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Киселева Н К
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Фазовые превращения и реверсивная оптическая запись в тонких пленках Te
$_{81}$
Ge
$_{15}$
As
$_{4}$
Физика твердого тела
,
30
:7 (1988),
1965–1969
Использование рефрактометрии для фазового анализа полупроводниковых аморфных пленок (на примере системы As
$-$
S)
ЖТФ
,
54
:11 (1984),
2256–2258
©
МИАН
, 2024