Шуманн И

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Зависимость кинетики кристаллизации тонких пленок Cr$_{0.26}$Si$_{0.74}$ от толщины
   
   Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020),  355–357
2. Особенности низкотемпературной проводимости и магнитосопротивления аморфных пленок системы германий–хром
   
   Физика твердого тела, 30:3 (1988),  696–699