Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Локальная диагностика спиновых дефектов в облученных SiC-диодах Шоттки
Письма в ЖЭТФ, 120:5 (2024), 367–373
-
Полностью оптическая сканирующая спектроскопия антипересечения электронных и ядерных спиновых уровней в кристалле 4H-SiC
Письма в ЖЭТФ, 119:2 (2024), 82–88
-
Обнаружение спектров ЭПР оптически индуцированных носителей со свойствами эффективной массы в дихалькогениде переходного металла WS$_2$
Письма в ЖЭТФ, 117:9 (2023), 697–703
-
Наночастицы 6H-SiC, интегрированные с атомно-силовым микроскопом для сканирующих квантовых сенсоров
Письма в ЖЭТФ, 116:11 (2022), 810–815
-
Влияние механических напряжений на расщепление спиновых подуровней в 4H-SiC
Письма в ЖЭТФ, 114:5 (2021), 323–327
© , 2024