|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Диодные гетероструктуры с ферромагнитными узкозонными полупроводниками A$^{3}$FeB$^{5}$ разного типа проводимости
Физика твердого тела, 63:7 (2021), 866–873
-
Сравнение гетероструктур А$^{\mathrm{III}}$В$^{\mathrm{V}}$, выращенных на платформах Ge/Si, Ge/SOI и GaAs
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 978–988
-
Легирование углеродных нанослоев, выращенных импульсным лазерным методом
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 637–643
-
Влияние состава зародышевого слоя AlGaAs на формирование антифазных доменов в структурах (Al)GaAs, выращенных газофазной эпитаксией на подложках Ge/Si(100)
Письма в ЖТФ, 47:8 (2021), 37–40
-
Наращивание слоя Ge на структуру Si/SiO$_{2}$/Si (100) методом “горячей проволоки”
Физика и техника полупроводников, 54:10 (2020), 1129–1133
-
Углеродные пленки, полученные импульсным лазерным методом, и их влияние на свойства GaAs-структур
Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 868–872
-
Формирование углеродных слоев методом термического разложения четыреххлористого углерода в реакторе МОС-гидридной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 801–806
-
Исследования поперечного среза и фотолюминесценции слоя GaAs, выращенного на подложке Si/Al$_{2}$O$_{3}$
Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1271–1274
-
Комплексное применение спектроскопии комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции для диагностики многослойных гетероструктур
Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1233–1236
-
Исследование особенностей формирования и свойств полупроводников А$^{3}$В$^{5}$, сильно легированных железом
Физика твердого тела, 60:11 (2018), 2137–2140
-
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия пленок стабилизированного диоксида циркония со встроенными наночастицами Au, сформированными в процессе облучения ионами золота
Физика твердого тела, 60:3 (2018), 591–595
-
Формирование контактов MnGa/GaAs для применений в оптоэлектронике и спинтронике
Физика и техника полупроводников, 50:11 (2016), 1463–1468
© , 2024