|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Оптические и структурные свойства эпитаксиальных слоев Hg$_{0.7}$Cd$_{0.3}$Te
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1040–1044
-
Спектральные и электрические свойства светодиодных гетероструктур с активной областью на основе InAs
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 682–687
-
Оптические свойства квазиобъемных кристаллов нитрида галлия со структурой высокоориентированной текстуры
Физика и техника полупроводников, 55:7 (2021), 554–558
-
Исследование вольт-амперных характеристик светодиодных гетероструктур на основе InAsSb в диапазоне температур 4.2–300 K
Физика и техника полупроводников, 55:6 (2021), 502–506
-
Подавление температурной зависимости длины волны излучения в светодиодных структурах со ступенчатым гетеропереходом II типа InAsSb/InAsSbP
Физика и техника полупроводников, 55:3 (2021), 277–281
-
Оптические и структурные свойства твердых растворов HgCdTe с большим содержанием CdTe
Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1302–1308
-
Экспериментальное исследование и моделирование спектральных характеристик светодиодных гетероструктур с активной областью из InAs
Письма в ЖТФ, 46:3 (2020), 51–54
-
Исследование возможностей метода газофазной эпитаксии из металлорганических соединений для изготовления тонких слоев InAs/GaSb
ЖТФ, 89:10 (2019), 1592–1597
-
Определение параметров латерального и нестационарного шнурового токов в цилиндрическом халькогенидном стеклообразном полупроводнике
Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1669–1673
-
Время жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках с близкими значениями запрещенной зоны и спин-орбитального отщепления
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 450–455
-
Исследование разупорядочения в твердых растворах теллуридов кадмия-ртути оптическими методами
Письма в ЖТФ, 45:11 (2019), 24–27
-
Влияние флуктуаций состава на излучательную рекомбинацию в узкозонных полупроводниковых твердых растворах
ЖТФ, 87:3 (2017), 419–426
-
Электролюминесценция светодиодных гетероструктур InAs/InAs(Sb)/InAsSbP в диапазоне температур 4.2–300 K
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 247–252
-
Дефекты в гетероэпитаксиальных структурах теллуридов кадмия и ртути, выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией на подложках из кремния
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 208–211
-
Формирование структур графит/SiC методом термического разложения карбида кремния
Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016), 138–142
© , 2024