|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Влияние дополнительной имплантации ионов кислорода на дислокационную люминесценцию кремния, содержащего кислородные преципитаты
Физика и техника полупроводников, 55:10 (2021), 928–931
-
Влияние деформации сжатия и растяжения на спектр дислокационной люминесценции в кремнии
Физика и техника полупроводников, 55:7 (2021), 550–553
-
Кремниевые светодиоды с люминесценцией (113) дефектов
Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 580–584
-
Образование дефектов в структурах GaAs с непокрытой и покрытой пленкой AlN поверхностями при имплантации ионов азота и последующем отжиге
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 437–440
-
Дислокационная фотолюминесценция в кремнии, имплантированном ионами германия
Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019), 165–168
-
Влияние температуры отжига на электрически активные центры в кремнии, имплантированном ионами германия
Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019), 161–164
-
Дефектная структура слоев GaAs, имплантированных ионами азота
Письма в ЖТФ, 44:18 (2018), 24–30
-
Влияние дозы имплантации ионов азота на концентрацию точечных дефектов, введенных в слои GaAs
Письма в ЖТФ, 44:13 (2018), 44–50
-
Влияние температуры измерения на люминесцентные свойства (113) дефектов в кремнии, имплантированном ионами кислорода
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1182–1184
-
Дислокационная фотолюминесценция в кремнии, имплантированном ионами фтора
Письма в ЖТФ, 43:1 (2017), 14–20
-
Влияние дозы имплантации и длительности отжига на люминесцентные свойства (113) дефектов в Si, имплантированном ионами кислорода
Физика твердого тела, 58:12 (2016), 2411–2414
-
Электролюминесцентные свойства светодиодов на основе $p$-Si, облученного электронами
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 254–258
-
Влияние условий изготовления светодиодов на основе SiGe на их люминесцентные и электрофизические свойства
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 250–253
-
Si : Si светодиоды с дислокационной люминесценцией при комнатной температуре
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 241–244
© , 2024