Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Определение толщин в карбидкремниевых структурах методом частотного анализа спектра отражения
ЖТФ, 91:5 (2021), 827–831
-
Сравнительный эллипсометрический анализ политипов карбида кремния 4$H$, 15$R$, 6$H$, полученных модифицированным методом Лели в одном ростовом процессе
Письма в ЖТФ, 46:19 (2020), 28–31
-
Исследование методом наноиндентирования твердости и модуля Юнга в тонких приповерхностных слоях карбида кремния со стороны Si- и C-граней
Письма в ЖТФ, 46:15 (2020), 36–38
-
Неразрушающий контроль поверхности, слоев и концентрации носителей заряда в подложках и структурах SiC
ЖТФ, 89:12 (2019), 1869–1874
-
Планаризация поверхности композиции “нанопористый диоксид кремния-диоксид титана” методом атомно-молекулярной химической сборки
ЖТФ, 87:5 (2017), 736–740
© , 2024