Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Изготовление и тестирование в мягком рентгеновском и ЭУФ диапазонах дифракционных решеток с Au- и многослойным Mo/Si-покрытиями и с блеском в высоких порядках
Квантовая электроника, 52:10 (2022), 955–962
-
Дифракционные решетки с блеском, получаемые на пластинах Si – первые результаты
ЖТФ, 91:10 (2021), 1538–1547
-
Высокоточная характеризация сверхмногопериодных AlGaAs/GaAs-сверхрешеток с помощью рентгеновской рефлектометрии на синхротронном источнике
Письма в ЖТФ, 47:15 (2021), 7–10
-
Глубокая рентгеновская рефлектометрия сверхмногопериодных A3B5-структур с квантовыми ямами, выращиваемых методом молекулярно-пучковой эпитаксии
ЖТФ, 90:11 (2020), 1906–1912
© , 2024