Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Температурное падение эффективности мощных синих InGaN/GaN-светодиодов
Письма в ЖТФ, 46:24 (2020), 45–48
-
Влияние протонного облучения (15 МэВ) на низкочастотный шум мощных SiC MOSFETs
Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1604–1608
-
Влияние облучения электронами с энергией 0.9 МэВ на вольт-амперные характеристики и низкочастотные шумы 4$H$-SiC pin-диодов
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 555–561
-
Многообразие свойств приборных структур на основе нитридов элементов III группы, связанное с модификацией фрактально-перколяционной системы
Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 804–811
-
Фрактальная природа светоизлучающих структур на основе III–N наноматериалов и связанные с ней явления
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1195–1201
© , 2024