Кириенко Дмитрий Александрович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках
   
   Письма в ЖТФ, 44:9 (2018),  81–87
2. Отделение тонких пленок ITO от кремниевой подложки с помощью микросекундного лазерного облучения
   
   Физика и техника полупроводников, 51:6 (2017),  855–859