Эргашов Ёкуб Сувонович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Глубина выхода вторичных и фотоэлектронов из пленок CdTe с пленкой Ba
   
   ЖТФ, 89:7 (2019),  1115–1117
2. Структура и свойства двухслойной наноразмерной системы CoSi$_{2}$/Si/CoSi$_{2}$/Si, полученной ионной имплантацией
   
   ЖТФ, 88:12 (2018),  1859–1862
3. Состав и свойства наноразмерных структур Si, созданных на поверхности CoSi$_{2}$/Si(111) бомбардировкой ионами Ar$^{+}$
   
   ЖТФ, 87:5 (2017),  758–761
4. Прохождение электромагнитных излучений через тонкие пленки Cu
   
   ЖТФ, 86:6 (2016),  156–158