Крюков Евгений Витальевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Экстремально глубокий послойный анализ атомного состава толстых ($>$ 100 $\mu$m) слоев GaAs в составе мощных PIN-диодов методом вторично-ионной масс-спектрометрии
   
   Письма в ЖТФ, 42:15 (2016),  27–35