Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Прыжковая проводимость и диэлектрическая релаксация в барьерах Шоттки на основе GaN
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1235–1242
-
Отделение слабо легированных пленок $n$-GaN микронной толщины от подложек, основанное на эффекте поглощения ИК излучения в сапфире
Физика и техника полупроводников, 51:1 (2017), 116–123
-
Лазерное отделение пленок $n$-GaN от подложек, основанное на эффекте сильного поглощения ИК излучения свободными носителями заряда в $n^{+}$-GaN подложках
Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 711–716
-
Буферные слои аморфного углерода для отделения свободных пленок нитрида галлия
Письма в ЖТФ, 42:21 (2016), 32–38
© , 2024