Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Анализ кристаллической структуры сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0, 1, 2, $\dots$) в рамках теории плотнейших шаровых упаковок
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1011–1013
-
Оценка ширины запрещенной зоны ряда новых термоэлектрических материалов
Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 940–943
-
Электрохимические исследования процессов легирования медью слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)
Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 937–939
-
Соотношения симметрии и структурный код слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)
Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 933–936
© , 2024