RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Кущенков Станислав Александрович
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO
$_{2}$
/Si(111)
Физика и техника полупроводников
,
50
:3 (2016),
344–349
©
МИАН
, 2024