RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Караулов Виктор Юрьевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа

    Письма в ЖТФ, 48:23 (2022),  22–25


© МИАН, 2025