RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Караулов Виктор Юрьевич
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа
Письма в ЖТФ
,
48
:23 (2022),
22–25
©
МИАН
, 2025