Кузьмин Роман Алексеевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Устойчивость к электронному облучению высоковольтных 4H-SiC диодов Шоттки в рабочем диапазоне температур
   
   Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022),  809–813