Курилюк В В

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Подповерхностная локализация носителей заряда в наноструктурах Si/SiO$_2$/Si$_x$Ge$_{1-x}$
   
   ЖТФ, 83:3 (2013),  84–90
2. Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности
   
   Физика и техника полупроводников, 47:8 (2013),  1027–1032