RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Azam A
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Effect of post oxidation annealing on electrical characteristics of Ni/SiO
$_2$
/4
H
-SiC capacitor with varying oxide thickness
Физика и техника полупроводников
,
46
:4 (2012),
562–568
©
МИАН
, 2025