RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Azam A

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Effect of post oxidation annealing on electrical characteristics of Ni/SiO$_2$/4H-SiC capacitor with varying oxide thickness

    Физика и техника полупроводников, 46:4 (2012),  562–568


© МИАН, 2025