RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Бондаренко С Г
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO
$_2$
/Si(100)
ЖТФ
,
82
:9 (2012),
44–48
©
МИАН
, 2025
