|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование напряжeнности внутренних электрических полей в активной области светодиодных структур на основе InGaN/GaN с разным числом квантовых ям методом спектроскопии электропропускания
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 420–425
-
Фотореверсивный ток в светодиодных гетероструктурах на основе InGaN/GaN c разным количеством квантовых ям
Физика и техника полупроводников, 54:3 (2020), 292–295
-
Исследование распределения встроенных электрических полей в светодиодных гетероструктурах c множественными квантовыми ямами GaN/InGaN методом электроотражения
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 493–499
-
Исследование методом спектроскопии фотоотражения слоев LT-GaAs, выращенных на подложках Si и GaAs
Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 708–711
-
Спектры электроотражения множественных квантовых ям InGaN/GaN, помещенных в неоднородное электрическое поле $p$–$n$-перехода
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 198–201
-
Комбинационное рассеяние света в InP, легированном имплантацией ионов Be$^{+}$
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 177–181
-
Фемтосекундное наноструктурирование кремниевых поверхностей
Письма в ЖЭТФ, 83:2 (2006), 76–79
-
Температурная зависимость доменной структуры BiVO$_{4}$
Физика твердого тела, 27:1 (1985), 231–233
-
Температурная зависимость показателей преломления BiVO$_{4}$
Физика твердого тела, 25:9 (1983), 2782–2784
© , 2024