RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Селезнев В Н

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. О моделировании задач когерентной оптики скользящего падения

    Квантовая электроника, 42:2 (2012),  140–142
  2. Исследование распределения ионов Cr$^{3+}$ в Li$_{0.5}$Fe$_{2.5-x}$Cr$_{x}$O$_{4}$ методом ЯМР

    Физика твердого тела, 33:6 (1991),  1884–1886
  3. Температурная зависимость поверхностной анизотропии бората железа

    Физика твердого тела, 31:6 (1989),  273–275
  4. Энергетический спектр локализованных состояний аморфных слоев SiN$_{x}$

    Письма в ЖТФ, 15:1 (1989),  84–86
  5. Наблюдение доменной структуры на небазисных гранях кристаллов FeBO$_{3}$

    ЖТФ, 57:10 (1987),  2051–2053
  6. Новая оптоэлектронная реверсивная запоминающая среда (обзор)

    Квантовая электроника, 14:3 (1987),  437–451
  7. Новая реверсивная запоминающая оптоэлектронная среда

    Квантовая электроника, 14:1 (1987),  190–192
  8. Фотолюминесценция аморфного нитрида кремния

    Письма в ЖТФ, 12:1 (1986),  10–13
  9. Фотоиндуцированная одноосная анизотропия в FeBO$_{3}$ : Ni

    Физика твердого тела, 27:1 (1985),  289–291
  10. О температурной зависимости энергии активации проводимости некристаллических полупроводников

    Физика и техника полупроводников, 19:1 (1985),  156–158
  11. Мёссбауэрографическое определение магнитной структуры кристалла Fe$_{3}$BO$_{6}$

    Физика твердого тела, 26:10 (1984),  3068–3072
  12. Переходные процессы в МНОП структурах и их связь с нестабильностью электрических характеристик приборов

    ЖТФ, 53:6 (1983),  1089–1095
  13. МДП-элемент памяти с оптическим управлением

    Квантовая электроника, 8:12 (1981),  2707–2710
  14. Электронные процессы в структурах маталл – нитрид кремния – двуокись кремния – полупроводник (МНОП)

    УФН, 134:4 (1981),  747–748
  15. Оптоэлектронное оперативное запоминающее устройство на основе МНОП-структуры и лазерной ЭЛТ

    Квантовая электроника, 7:7 (1980),  1585–1588
  16. О возможности использования МДП-структур на основе гетероструктур GaP–GaAs для оптической обработки информации

    Квантовая электроника, 4:3 (1977),  678–681
  17. Исследование разрешающей способности пленок EuO при записи голографической информации

    Квантовая электроника, 4:3 (1977),  669–672
  18. Оптически управляемый элемент памяти на основе МНОП-структуры с подложкой из арсенида галлия

    Квантовая электроника, 3:9 (1976),  2078–2080
  19. Голографическая запись информации на пленках EuO

    Квантовая электроника, 3:9 (1976),  2076–2078
  20. Реверсивная запись оптической информации на структурах металл – диэлектрик – полупроводник

    Квантовая электроника, 2:9 (1975),  2013–2018
  21. Фотоэлектрическое считывание информации, записанной на МНОП-структуре

    Квантовая электроника, 2:3 (1975),  508–512
  22. Исследование разрешающей способности структур металл – нитрид – окисел – полупроводник при записи и считывании оптической информации

    Квантовая электроника, 1:10 (1974),  2291–2293
  23. Перераспределение напряжения в структуре металл – нитрид кремния – окись кремния – кремний под действием света лазера

    Квантовая электроника, 1:8 (1974),  1885–1888
  24. Материалы для реверсивной оптической памяти (обзор)

    Квантовая электроника, 1:7 (1974),  1485–1499

  25. Международная конференция по интегральной и волноводной оптике (Инклайн Виллидж, Невада, США 28–30 января 1980 г.)

    Квантовая электроника, 8:1 (1981),  234–240


© МИАН, 2024