|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Вариация состояния поверхности в ходе сканирования в низковольтном РЭМ и ее влияние на размеры рельефной структуры
Физика твердого тела, 62:6 (2020), 947–954
-
Роль точечных дефектов в фоточувствительности фосфоросиликатного стекла, насыщенного водородом
Квантовая электроника, 40:5 (2010), 441–445
-
Механизм индуцированного изменения показателя преломления в фосфоросиликатном стекле
Квантовая электроника, 40:3 (2010), 264–268
-
Перестройка сетки фосфоросиликатного стекла под действием излучения на длине волны 193 нм
Квантовая электроника, 38:10 (2008), 945–950
-
Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
Квантовая электроника, 37:6 (2007), 575–579
-
Фоточувствительность волоконных световодов, легированных различными примесями
Квантовая электроника, 34:2 (2004), 175–179
-
Исследование динамики преобразования точечных дефектов в фосфоросиликатных световодах по наведенному показателю преломления
Квантовая электроника, 33:10 (2003), 919–925
-
Особенности проявления фоточувствительности в фосфоросиликатных световодах с малыми потерями
Квантовая электроника, 32:2 (2002), 124–128
-
Запись длиннопериодной решетки в волоконном световоде с помощью излучения второй гармоники фемтосекундного лазера на Ti:сапфире
Квантовая электроника, 31:11 (2001), 999–1002
© , 2024