RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Огнев Л И

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Излучение электронов с энергией 21 МэВ при плоскостном каналировании в монокристаллах кремния

    Письма в ЖТФ, 17:21 (1991),  83–87
  2. Излучение при плоскостном каналировании релятивистских электронов в толстых кристаллах

    Письма в ЖТФ, 15:3 (1989),  5–9
  3. Волновые функции каналированных электронов в кристалле

    ЖТФ, 58:9 (1988),  1695–1701
  4. Прямой метод расчета эволюции волновой функции каналированных МэВ-х электронов

    ЖТФ, 58:2 (1988),  256–264
  5. Исследование дифракционной перекачки рентгеновских и $\gamma$-лучей на деформированных кристаллах с квадратичной функцией смещения атомов

    ЖТФ, 58:1 (1988),  204–207
  6. Об определении длины деканалирования релятивистских электронов по ориентационным зависимостям характеристического рентгеновского излучения

    Письма в ЖТФ, 14:7 (1988),  577–580
  7. Спектроскопия излучения каналированных частиц – новый метод исследования кристаллов

    УФН, 154:4 (1988),  691–702
  8. Аномальная зависимость некогерентного рассеяния каналированных электронов от их энергии и ориентации кристалла

    ЖТФ, 56:9 (1986),  1786–1790
  9. О полном внешнем отражении $\gamma$-квантов от поверхности

    Письма в ЖТФ, 12:21 (1986),  1307–1311
  10. О спектре излучения гиперканалированных позитронов

    Письма в ЖТФ, 12:2 (1986),  67–71
  11. Формирование ультракороткого импульса в CO2-усилителе с пространственно ограниченной областью усиления

    Квантовая электроника, 12:5 (1985),  1105–1107
  12. Влияние дифракции и нерезонансного поглощения на формирование ультракороткого импульса в CO2-усилителе

    Квантовая электроника, 11:8 (1984),  1617–1621
  13. Численное исследование тепловой дефокусировки в импульсном CO2-усилителе

    Квантовая электроника, 8:6 (1981),  1214–1220
  14. Самовоздействие светового пучка в условиях кинетического охлаждения

    Квантовая электроника, 8:5 (1981),  1012–1017
  15. Резонансная самофокусировка в смеси CO$_2$ и N$_2$

    Прикл. мех. техн. физ., 21:4 (1980),  50–57


© МИАН, 2024