Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Использование высоких порядков отражения от кристаллов слюды для рентгеноспектральных исследований в диапазоне длин волн 0.1 — 0.3 нм
Квантовая электроника, 22:1 (1995), 21–24
-
Применение асимметричных кристаллов для рентгеновской диагностики лазерной плазмы
Квантовая электроника, 9:9 (1982), 1817–1820
-
Методика исследования абсолютной интенсивности рентгеновских спектров многозарядных ионов
Квантовая электроника, 8:3 (1981), 615–622
-
Измерение параметров оболочечных мишеней для ЛТС при помощи рентгеновского шлирен-метода
Квантовая электроника, 6:5 (1979), 1037–1042
-
Поправки к статье: Использование высоких порядков отражения от кристаллов слюды для рентгеноспектральных исследований в диапазоне длин волн 0.1–0.3 нм
Квантовая электроника, 22:5 (1995), 528
© , 2024