|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Рост силицена методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках CaF$_2$/Si(111), модифицированных электронным облучением
Письма в ЖЭТФ, 119:9 (2024), 692–696
-
Cинтез эпитаксиальных структур, содержащих двумерные слои Si, встроенные в диэлектрическую матрицу CaF$_2$
Письма в ЖЭТФ, 116:9 (2022), 608–613
-
Электронный парамагнитный резонанс в структурах с кольцевыми молекулами GeSi квантовых точек
Письма в ЖЭТФ, 113:1 (2021), 58–62
-
Зависимость люминесцентных свойств упорядоченных групп Ge(Si) наноостровков от параметров ямок на структурированной поверхности подложки “кремний на изоляторе”
Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021), 1210–1215
-
Атомная структура и оптические свойства слоев CaSi$_{2}$, выращенных на CaF$_{2}$/Si-подложках
Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021), 725–728
-
Люминесценция пространственно упорядоченных одиночных и групп самоформирующихся Ge(Si) наноостровков, встроенных в фотонные кристаллы
Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 708–715
-
Электронный парамагнитный резонанс в Ge/Si гетероструктурах с квантовыми точками, легированными марганцем
Письма в ЖЭТФ, 109:4 (2019), 258–264
-
Упорядоченные массивы квантовых точек Ge(Si), встроенные в двумерные фотонные кристаллы
Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1366–1371
-
Зарождение трехмерных островков Ge на структурированной поверхности Si(100)
Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1346–1350
-
Исследование структурных и излучательных свойств Ge(Si) квантовых точек, упорядоченных на поверхности Si(001)
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1028–1033
-
Усиление фотолюминесценции в гетероструктурах Ge/Si с двойными квантовыми точками
Письма в ЖЭТФ, 104:12 (2016), 845–848
-
Элементный состав нанокластеров, формируемых импульсным облучением низкоэнергетическими ионами в процессе эпитаксии Ge/Si
Письма в ЖЭТФ, 79:7 (2004), 411–415
-
Эффект самоорганизации ансамбля нанокластеров Ge при импульсном облучении низкоэнергетическими ионами в процессе гетероэпитаксии на Si
Письма в ЖЭТФ, 74:5 (2001), 296–299
© , 2024